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內(nèi)容提要 《數(shù)字電子技術(shù)實驗》分為3篇,第一篇為數(shù)字電子電路實驗基礎(chǔ)知識,主要介紹數(shù)字集成器件相關(guān)知識和數(shù)字電路實驗相關(guān)知識等;第2篇是基礎(chǔ)型(驗證性)實驗,共安排了11個實驗內(nèi)容;第3篇是提高型(設(shè)計性)實驗,安排了5個經(jīng)典的綜合設(shè)計題目、5個Multisim仿真實驗和6個PLD實驗。本書的內(nèi)容編排注重結(jié)合數(shù)字電路的工程應(yīng)用實際和技術(shù)發(fā)展方向,在幫助學(xué)生驗證、消化和鞏固基礎(chǔ)理論的同時,努力培養(yǎng)學(xué)生的工程素養(yǎng)和創(chuàng)新能力。實驗原理部分注意引導(dǎo)學(xué)生理解數(shù)字集成電路的構(gòu)成原理、電氣特性和實際應(yīng)用,培養(yǎng)學(xué)生的工程意識;實驗內(nèi)容安排由淺入深、循序漸進、前后呼應(yīng),在配合理論教學(xué)的同時,注意引導(dǎo)學(xué)生運用所學(xué)知識解決工程實際問題;在實驗思考題的設(shè)計上注意進一步引導(dǎo)學(xué)生分析和思考工程實際問題,激發(fā)學(xué)生的創(chuàng)新思維。本書可作為高等學(xué)校電子信息類、計算機類學(xué)生“電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗”、“數(shù)字電子電路實驗”等課程的教材,也可供相關(guān)工程技術(shù)人員、教師和學(xué)生參考。 目錄 第1篇實驗基礎(chǔ)知識(1) 1數(shù)字電路實驗基礎(chǔ)知識(1) 11數(shù)字集成器件(1) 111數(shù)字集成器件的發(fā)展和分類(1) 112TTL集成電路的特點(2) 113CMOS集成電路的特點(2) 114TTL集成電路與CMOS集成電路混用時應(yīng)注意的問題(3) 115數(shù)字集成電路的數(shù)據(jù)手冊(6) 116邏輯電平(8) 12數(shù)字電路實驗(10) 121數(shù)字電路實驗的基本過程(10) 122數(shù)字電路的調(diào)試(11) 123數(shù)字電路實驗的方法(12) 第2篇基本型(驗證性)實驗(13) 2數(shù)字電路基本實驗(13) 21基本門電路的測試(13) 211實驗?zāi)康模?3) 212實驗設(shè)備(13) 213實驗原理(13) 214實驗內(nèi)容(20) 215實驗報告(23) 216思考題(23) 22OC/OD門和三態(tài)門(24) 221實驗?zāi)康模?4) 222實驗設(shè)備(24) 223實驗原理(24) 224實驗內(nèi)容(28) 225實驗報告(31) 226思考題(31) 23加法器和數(shù)據(jù)比較器(32) 231實驗?zāi)康模?2) 232實驗設(shè)備(32) 233實驗原理(32) 234實驗內(nèi)容(36) 235實驗報告(36) 236思考題(36) 24譯碼器和編碼器(37) 241實驗?zāi)康模?7) 242實驗設(shè)備(37) 243實驗原理(37) 244實驗內(nèi)容(42) 245實驗報告(43) 246思考題(43) 25數(shù)據(jù)選擇器和分配器(43) 251實驗?zāi)康模?3) 252實驗設(shè)備(43) 253實驗原理(43) 254實驗內(nèi)容(47) 255實驗報告(48) 256思考題(48) 26觸發(fā)器(49) 261實驗?zāi)康模?9) 262實驗設(shè)備(49) 263實驗原理(49) 2.6.4實驗內(nèi)容(54) 2.6.5實驗報告(56) 2.6.6思考題(56) 27集成計數(shù)器(56) 271實驗?zāi)康模?6) 272實驗設(shè)備(57) 273實驗原理(57) 274實驗內(nèi)容(60) 275實驗報告(61) 276思考題(61) 28集成移位寄存器(62) 281實驗?zāi)康模?2) 282實驗設(shè)備(62) 283實驗原理(62) 284實驗內(nèi)容(65) 285實驗報告(66) 286思考題(66) 29SRAM(66) 291實驗?zāi)康模?6) 292實驗設(shè)備(66) 293實驗原理(66) 294實驗內(nèi)容(70) 295實驗報告(72) 296思考題(72) 210555定時器(72) 2101實驗?zāi)康模?2) 2102實驗設(shè)備(72) 2103實驗原理(73) 2104實驗內(nèi)容(76) 2105實驗報告(77) 2106思考題(77) 211A/D轉(zhuǎn)換器和D/A轉(zhuǎn)換器(77) 2111實驗?zāi)康模?7) 2112實驗設(shè)備(78) 2113實驗原理(78) 2114實驗內(nèi)容(86) 2115實驗報告(88) 2116思考題(88) 第3篇提高型(設(shè)計性)實驗(89) 3設(shè)計性實驗(89) 31籃球競賽24s定時器的設(shè)計(89) 311設(shè)計目的(89) 312設(shè)計任務(wù)(89) 313設(shè)計舉例(90) 314實驗和思考題(92) 32汽車尾燈控制電路的設(shè)計(93) 321設(shè)計目的(93) 322設(shè)計任務(wù)(93) 323設(shè)計舉例(93) 324實驗和思考題(97) 33彩燈循環(huán)控制器的設(shè)計(97) 331設(shè)計目的(97) 332設(shè)計任務(wù)(97) 333設(shè)計舉例(98) 334實驗和思考題(100) 34多路智力競賽搶答器的設(shè)計(100) 341設(shè)計目的(100) 342設(shè)計任務(wù)(100) 343設(shè)計舉例(101) 344實驗和思考題(105) 35簡易數(shù)字頻率計的設(shè)計(105) 351設(shè)計目的(105) 352設(shè)計任務(wù)(105) 353設(shè)計舉例(106) 354實驗和思考題(111) 4Multisim仿真實驗(112) 41集成邏輯門的應(yīng)用(112) 411實驗?zāi)康模?12) 412實驗內(nèi)容(112) 413實驗報告(117) 414思考題(117) 42競爭冒險現(xiàn)象及其消除(118) 421實驗?zāi)康模?18) 422實驗內(nèi)容(118) 423實驗報告(120) 424思考題(120) 43D觸發(fā)器(120) 431實驗?zāi)康模?20) 432實驗內(nèi)容(121) 433實驗報告(124) 434思考題(124) 44計數(shù)、譯碼和顯示電路(124) 441實驗?zāi)康模?24) 442實驗內(nèi)容(124) 443實驗報告(126) 444思考題(126) 45555定時器(126) 451實驗?zāi)康模?26) 452實驗內(nèi)容(126) 453實驗報告(130) 454思考題(130) 5可編程邏輯器件實驗(131) 51可編程邏輯器件(131) 511可編程邏輯器件的概念(131) 512EPM7128SLC8415的特點(132) 52QuartusⅡ使用方法(133) 5.2.1輸入源程序(134) 5.2.2生成設(shè)計元件符號(135) 5.2.3產(chǎn)生頂層設(shè)計文件(135) 5.2.4編譯頂層設(shè)計文件(136) 5.2.5仿真頂層設(shè)計文件(138) 5.2.6下載頂層設(shè)計文件(140) 53數(shù)據(jù)選擇器的設(shè)計(140) 531實驗?zāi)康模?41) 532實驗原理(141) 533實驗內(nèi)容(141) 534實驗報告(142) 54觸發(fā)器的設(shè)計(143) 541實驗?zāi)康模?43) 542實驗原理(143) 543實驗內(nèi)容(143) 544實驗報告(144) 55移位寄存器的設(shè)計(144) 551實驗?zāi)康模?44) 552實驗原理(145) 553實驗內(nèi)容(145) 554實驗報告(146) 56數(shù)字秒表的設(shè)計(146) 561實驗?zāi)康模?46) 562實驗原理(146) 563實驗內(nèi)容(147) 564實驗報告(149) 附錄(150) 附錄A常用IC封裝(150) 附錄BVHDL(160) B1VHDL的基本結(jié)構(gòu)(160) B2VHDL的數(shù)據(jù)類型(161) B3VHDL的數(shù)據(jù)對象(161) B4VHDL的端口說明(162) B5庫及程序包調(diào)用(163) B6VHDL的邏輯運算(163) B7VHDL的基本語句(164) B8結(jié)構(gòu)體的描述方式(172) 參考文獻(175) |
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